测试刺激环境

广浩捷自研的测试刺激模块(Chamber)系列,覆盖压力、惯性、芯片三温等多种物理场测试需求。所有Chamber均采用模块化设计,可与NHS-410系列及RHS系列分选机灵活对接,支持从实验室打样到大规模量产的全场景应用。


应用领域
  • XXX
    MEMS压力传感器
  • XXX
    MEMS温度传感器
  • XXX
    MEMS陀螺仪/加速度传感器
  • XXX
    存储半导体
  • XXX
    功率半导体
  • XXX
    MCU半导体

相关产品

相关产品
TPSS310 压力传感器标定测试设备
产品名称
TPSS310
压力传感器标定测试设备
RTS1000 惯性传感器标定测试设备
产品名称
RTS1000
惯性传感器标定测试设备
RTS1000-M 手动惯性传感器标定测试设备
产品名称
RTS1000-M
手动惯性传感器标定测试设备
TPSS310-M 手动压力传感器标定测试设备
产品名称
TPSS310-M
手动压力传感器标定测试设备
MTS320A Memory/MCU三温测试设备
产品名称
MTS320A
Memory/MCU三温测试设备
TPSS310 压力传感器标定测试设备

TPSS310 压力传感器标定测试设备

功能

特点

  • 温控区间 - 55℃~150℃,搭载独立控温模块,控温精准稳定
  • 压力调节范围 10~1100KPa,整机泄漏率<5 Pa/s,密封性能优异
  • 最高支持 280 Site × 2 同步并行测试
  • 模块化设计,快速换线,适配多品类生产
  • 可任意搭配分选机,满足不同来料需求

应用

MEMS压力传感器、胎压计、防水压力传感器、差压传感器