- 测试刺激环境
广浩捷自研的测试刺激模块（Chamber）系列，覆盖压力、惯性、芯片三温等多种物理场测试需求。所有Chamber均采用模块化设计，可与NHS-410系列及RHS系列分选机灵活对接，支持从实验室打样到大规模量产的全场景应用。
- 应用领域
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MEMS压力传感器
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MEMS温度传感器
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MEMS陀螺仪/加速度传感器
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存储半导体
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功率半导体
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MCU半导体
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功能
特点
- 温度范围 -55℃~150℃
- 配备双载具往复穿梭结构，预热、预冷与测试工序同步进行，提升作业效率
- 最高支持 512 Site 同步测试
- 电动压头支持快速拆装，气缸可与 ATE 设备快速夹紧对接
- 兼容 BGA、QFP、TSOP、LGA、SOP 等多种主流封装形式
应用
Nor Flash、NAND Flash、MCU三温测试
