- 测试刺激环境
广浩捷自研的测试刺激模块（Chamber）系列，覆盖压力、惯性、芯片三温等多种物理场测试需求。所有Chamber均采用模块化设计，可与NHS-410系列及RHS系列分选机灵活对接，支持从实验室打样到大规模量产的全场景应用。
- 应用领域
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MEMS压力传感器
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MEMS温度传感器
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MEMS陀螺仪/加速度传感器
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存储半导体
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功率半导体
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MCU半导体
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功能
特点
- 旋转范围：外轴 -90° ~ +450°，内轴 -180° ~ +180°
- 最大支持128site同侧
- 温度支持常温或三温（- 55℃~150℃）测试，搭载独立控温模块，控温精准稳定
- 模块化设计，快速换线，适配多品类生产
- 可任意搭配分选机，满足不同来料需求
应用
3轴加速度计、3轴陀螺仪、6轴IMU的三温标定与分选
